Автоматизированный эллипсометрический комплекс предназначен для определения оптических характеристик материалов, поверхности и тонких пленок. В зависимости от комплектации прибора и программного обеспечения комплекс позволяет определять толщины, показатели преломления и поглощения тонких пленок и подложек как изотропных, так и анизотропных, находить профили показателей преломления и поглощения переходных слоев, такие как:
- параметры двулучепреломления;
- величина фазового сдвига и коэффициенты пропускания света поляризованного вдоль быстрого и медленного направлений;
- ориентации направлений быстрого и медленного пропускания;
- величина оптического вращения;
- направление и значение напряжений;
- полная матрица Джонса отражения и пропускания;
- матрица Мюллера для деполяризующих систем;
- пористость и шероховатость поверхностей и пленок.
Комплекс поставляется в виде комплекта приставок к серийному прибору ЛЭФ-3М и подключается к персональному компьютеру типа IBM PC через USB разъем. При установке комплекса не нарушается возможность проведения измерений в ручном режиме.
Программное обеспечение комплекса. Программное обеспечение содержит набор программ для обработки эллипсометрических данных. Новые возможности позволяют производить с помощью статистических критериев выбор решений, расчет погрешностей и оптимизацию условий измерений. Использован наиболее эффективный способ решения обратной задачи эллипсометрии, основанный на минимизации функции качества, учитывающей погрешность эллипсометрических измерений. Представлен наиболее полный для анализа тонкослойных структур набор моделей, включая многослойные системы, а также градиентные, пористые и шероховатые слои (пленки). Анализ экспериментальных и расчетных погрешностей позволяет определять оптические параметры n, k и их распределение по глубине слоя (пленки) с минимально допустимой ошибкой. Предусмотрена процедура выявления и максимального снижения погрешности вычисления параметров. Расчеты по пленкам и поверхностным слоям проводятся, как правило, по нескольким наиболее вероятным моделям. Возможен вывод и сопоставление графической информации в виде оптических профилей. Программа тестирована. Программа использовалась при исследовании и контроле пленок различных составов на основе , , , , , на нитридных, алмазоподобных и других пленках с толщинами от долей до 2000 нм на подложках из оптических стекол, кристаллов, металлов и полупроводников.
БП15Б-Д2 одноканальный блок питания, предназначен для питания стабилизированным напряжением постоянного тока широкого спектра радиоэлектронных устройств (релейной автоматики, контроллеров, датчиков и т. п.) Максимальная выходная мощность 15 Вт.
АТТ-1006 портативный анемометр c использованием металлической крыльчатки рекордно малого диаметра. Позволяет с повышенным разрешением измерить скорость движения воздушного потока, а также его объем и температуру, передать результаты измерения в компьютер. Диапазон измерения от 0,8 до 12 м/с.
Новости компании:
02.03.2013 Приглашаем партнеров и клиентов на выставку электронных компонентов – «Новая Электроника – 2013». Выставка пройдет с 26 по 28 марта 2013 года в Москве в ЦВК «Экспоцентр».
14.10.2012 Поздравляем всех коллег-метрологов со Всемирным днем стандартизации!
18.02.2012 Обновлен раздел каталога Геодезическое оборудование / Нивелиры лазерные. К поставляемой продукции добавлены лазерные нивелиры серии LP.
25.03.2010 К списку предлагаемой ООО "Техком" продукции, добавлена серия течетрассоискателей "Успех" по цене от 5000 рублей.
