Автоматизированный эллипсометрический комплекс предназначен для определения оптических характеристик материалов, поверхности и тонких пленок. В зависимости от комплектации прибора и программного обеспечения комплекс позволяет определять толщины, показатели преломления и поглощения тонких пленок и подложек как изотропных, так и анизотропных, находить профили показателей преломления и поглощения переходных слоев, такие как:
- параметры двулучепреломления;
- величина фазового сдвига и коэффициенты пропускания света поляризованного вдоль быстрого и медленного направлений;
- ориентации направлений быстрого и медленного пропускания;
- величина оптического вращения;
- направление и значение напряжений;
- полная матрица Джонса отражения и пропускания;
- матрица Мюллера для деполяризующих систем;
- пористость и шероховатость поверхностей и пленок.
Комплекс поставляется в виде комплекта приставок к серийному прибору ЛЭФ-3М и подключается к персональному компьютеру типа IBM PC через USB разъем. При установке комплекса не нарушается возможность проведения измерений в ручном режиме.
Программное обеспечение комплекса. Программное обеспечение содержит набор программ для обработки эллипсометрических данных. Новые возможности позволяют производить с помощью статистических критериев выбор решений, расчет погрешностей и оптимизацию условий измерений. Использован наиболее эффективный способ решения обратной задачи эллипсометрии, основанный на минимизации функции качества, учитывающей погрешность эллипсометрических измерений. Представлен наиболее полный для анализа тонкослойных структур набор моделей, включая многослойные системы, а также градиентные, пористые и шероховатые слои (пленки). Анализ экспериментальных и расчетных погрешностей позволяет определять оптические параметры n, k и их распределение по глубине слоя (пленки) с минимально допустимой ошибкой. Предусмотрена процедура выявления и максимального снижения погрешности вычисления параметров. Расчеты по пленкам и поверхностным слоям проводятся, как правило, по нескольким наиболее вероятным моделям. Возможен вывод и сопоставление графической информации в виде оптических профилей. Программа тестирована. Программа использовалась при исследовании и контроле пленок различных составов на основе , , , , , на нитридных, алмазоподобных и других пленках с толщинами от долей до 2000 нм на подложках из оптических стекол, кристаллов, металлов и полупроводников.
ИСКРА-АТ.01 барьер искрозащиты обеспечивает искрозащиту электрической цепи датчика. Применяются в системах регулирования, сигнализации и аварийной защиты на взрывопожароопасных участках, где могут присутствовать взрывоопасные смеси газов, паров, а также легковоспламеняющиеся и взрывчатые вещества (пыль, порошок). Воздействие на барьер напряжения до 250 В.
АТТ-1004 анемометр с выносным датчиком для измерения скорости потока воздуха 0,5-20 м/с и интерфейсом RS-232, работающий по принципу охлаждения воздушным потоком нагретой нити, обеспечивает быстрые и точные измерения даже при низком значении скорости движения воздушного потока (от 0,2 м/с).
Новости компании:
02.03.2013 Приглашаем партнеров и клиентов на выставку электронных компонентов – «Новая Электроника – 2013». Выставка пройдет с 26 по 28 марта 2013 года в Москве в ЦВК «Экспоцентр».
14.10.2012 Поздравляем всех коллег-метрологов со Всемирным днем стандартизации!
18.02.2012 Обновлен раздел каталога Геодезическое оборудование / Нивелиры лазерные. К поставляемой продукции добавлены лазерные нивелиры серии LP.
25.03.2010 К списку предлагаемой ООО "Техком" продукции, добавлена серия течетрассоискателей "Успех" по цене от 5000 рублей.
