СУР-01 "Реном" – модификация: дифрактометр и рентгенофлуоресцентный спектрометр в одном корпусе. В базовой комплектации включает в себя дифрактометр, который позволяет проводить измерения дифракционных спектров в геометрии Дебая-Шерера, Брэгга-Брентано, и рентгенофлуоресцентный спектрометр на базе полупроводникового PIN-детектора с Пельтье охлаждением и разрешением по линии 5,9 кэВ 180-230 эВ. Прибор настольного исполнения. Комплектуется ПК не ниже P-IV. Программное обеспечение позволяет производить качественный, полуколичественный (методом фундаментальных параметров), количественный (с помощью стандартных образцов) анализ концентраций элементов и измерение дифракционных спектров. ПО может дополняться информационно-поисковой системой с базой карточек ICDD, которое позволяет проводить рентгеноструктурный фазовый анализ (качественный и количественный). Комплекс позволяет производить неразрушающий анализ состава и концентрации химических элементов в твердых, порошкообразных, осажденных на пленках или фильтрах, жидких проб.
- устройства углового сканирования для измерений дифракционных спектров;
- тракта регистрации дифрагировавшего излучения.
В комплексе используется высокостабильный блок рентгеновского излучения на основе трубки БСВ33 мощностью до 300 Вт. Пучок рентгеновских квантов формируется системой коллимации состоящей из четырех подвижных щелей. Оптические оси рентгеновского пучка, PIN-детектора рентгеновского излучения и микроскопа системы выбора микроучастков пересекаются в центре окружности, находящейся в плоскости системы регистрации дифрагировавшего излучения. Флуоресцентное рентгеновское излучение регистрируется Si PIN-детектором (площадь 7 мм2, толщина 300 мкм, пельтье охлаждение), который имеет разрешение по линии FeKα - 180-230 эВ.
Рис. 1
На Рис.1 приведен спектр сплава металлического образца, измеренный этим детектором при напряжении на трубке 30 кВ и токе 2 мА. Основной особенностью комплекса является возможность локального исследования микро участков размером 350х350 мкм образцов, размером до 15 мм. Эту возможность предоставляет разработанный и изготовленный нами механизм передвижения держателей образцов в трех координатах и система коллимации с изменяемым размером щелей. При этом предусмотрена возможность вращения цилиндрических образцов или установка плоских и сыпучих образцов под любым углом к падающему рентгеновскому излучению. В дифракционной части комплекса применяется система сканирования (СС) со сцинтилляционным или твердотельным детекторами рентгеновского излучения.
Рис. 2
На Рис.2 приведен дифракционный спектр новокаина, измеренный в диапазоне углов 50-15 угловых градусов.
Комплекс управляется ПЭВМ, программное обеспечение позволяет задавать рабочие режимы источника рентгеновского излучения, управления шаговыми двигателями систем сканирования, регистрацию и обработку спектрометрических и дифракционых спектров, вывод полученной информации в любом удобном для пользователя виде. Программное обеспечение рентгенофлуоресцентной части комплекса позволяет производить качественный, полуколичественный (методом фундаментальных параметров), количественный (с применением стандартных образцов) и сравнительный анализ образцов. Программное обеспечение дифракционной части позволяет производить измерение, обработку, поиск, определение положения и относительной интенсивности дифракционных пиков. Результаты представляются в виде таблицы или спектра по 2θ с рассчитанными значениями d/n и относительными интенсивностями линий. Эти значения и результаты флуоресцентного анализа передаются в любую программу поиска карт в базах данных рентгенофазового анализа для определения структурного состояния в веществе образцов. Таким образом, комплекс позволяет производить локальный рентгеновский микроанализ исследуемых образцов, определение концентраций элементов и структурное состояние веществ в этих образцах.
Значение параметра
Полный угловой диапазон регистрации дифракционного спектра по 2θ, °
-25...+140
Угловое разрешение по 2θ, не более, °
0,001
Регистрация дифракционных спектров может производитьcя в немонохроматизированном и в монохроматизированном излучении
Энергетическое разрешение по линии железа (6,4 кэВ), эВ
180-230
При использовании не монохроматического излучения предусмотрена установка дифференциальных и (или) β-фильтров материал фильтра определяется трубкой Продолжительность непрерывной работы, ч
12
Питание от сети переменного тока
220 В; 50 Гц
Общая потребляемая мощность, кВ×А
0,5
Габариты, мм
450x450x450
Масса, кг
30
- проволочные образцы диаметром 0,2-6 мм;
- порошковые образцы из материала с различной величиной зерна;
- образцы произвольной формы с плоской гранью.
СУР-01Д "Реном" – модификация: дифрактометр. В базовой комплектации включает в себя дифрактометр, который позволяет проводить измерения дифракционных спектров в геометрии Дебая-Шерера, Брэгга-Брентано. Комплектуется ПК не ниже P-IV. Программное обеспечение позволяет производить измерение дифракционных спектров в указанных рентгенооптических схемах. ПО может дополняться информационно-поисковой системой с базой карточек ICDD, которое позволяет проводить рентгеноструктурный фазовый анализ (качественный и количественный). Комплекс позволяет производить ренгеноструктурный фазовый анализ порошковых образцов.
Комплекс состоит из:
- блока рентгеновского излучения,
- системы коллимации,
- системы выбора микроучастков,
- устройства углового сканирования для измерений дифракционных спектров,
- тракта регистрации дифрагировавшего излучения.
В комплексе используется высокостабильный блок рентгеновского излучения на основе трубки БСВ33 мощностью до 300 Вт. Пучок рентгеновских квантов формируется системой коллимации состоящей из четырех подвижных щелей. Оптические оси рентгеновского пучка и микроскопа системы выбора микроучастков пересекаются в центре окружности находящейся в плоскости системы регистрации дифрагировавшего излучения. Предусмотрена возможность вращения цилиндрических образцов или установка плоских и сыпучих образцов под любым углом к падающему рентгеновскому излучению. В дифракционной части комплекса применяется система сканирования (СС) со сцинтилляционным или твердотельным детекторами рентгеновского излучения. Комплекс управляется ПЭВМ, программное обеспечение позволяет задавать рабочие режимы источника рентгеновского излучения, управления шаговыми двигателями систем сканирования, регистрацию и обработку спектрометрических и дифракционых спектров, вывод полученной информации в любом удобном для пользователя виде. Программное обеспечение позволяет производить измерение, обработку, поиск, определение положения и относительной интенсивности дифракционных пиков. Результаты представляются в виде таблицы или спектра по 2θ с рассчитанными значениями d/n и относительными интенсивностями линий. Эти значения передаются в любую программу поиска карт в базах данных рентгенофазового анализа для определения структурного состояния в веществе образцов.
Технические характеристики аналогичны СУР-01 «Реном».
- проволочные образцы диаметром 0,2-6 мм;
- порошковые образцы из материала с различной величиной зерна;
Флуоресцентный прибор с источником рентгеновского излучения 50 кВ, 10 Вт. Имеет сменщик образцов на 12 позиций, с возможностью вращения кюветы при измерении, и сменщик фильтров исходного излучения на 6 позиций. Комплектуется ПК не ниже P-IV. Программное обеспечение позволяет производить качественный, полуколичественный (методом фундаментальных параметров) и количественный (с помощью стандартных образцов) анализ концентраций элементов. ПО допускает полную автоматизацию процесса анализа.
АТТ-1006 портативный анемометр c использованием металлической крыльчатки рекордно малого диаметра. Позволяет с повышенным разрешением измерить скорость движения воздушного потока, а также его объем и температуру, передать результаты измерения в компьютер. Диапазон измерения от 0,8 до 12 м/с.
ИСКРА-АТ.01 барьер искрозащиты обеспечивает искрозащиту электрической цепи датчика. Применяются в системах регулирования, сигнализации и аварийной защиты на взрывопожароопасных участках, где могут присутствовать взрывоопасные смеси газов, паров, а также легковоспламеняющиеся и взрывчатые вещества (пыль, порошок). Воздействие на барьер напряжения до 250 В.
Новости компании:
02.03.2013 Приглашаем партнеров и клиентов на выставку электронных компонентов – «Новая Электроника – 2013». Выставка пройдет с 26 по 28 марта 2013 года в Москве в ЦВК «Экспоцентр».
14.10.2012 Поздравляем всех коллег-метрологов со Всемирным днем стандартизации!
18.02.2012 Обновлен раздел каталога Геодезическое оборудование / Нивелиры лазерные. К поставляемой продукции добавлены лазерные нивелиры серии LP.
25.03.2010 К списку предлагаемой ООО "Техком" продукции, добавлена серия течетрассоискателей "Успех" по цене от 5000 рублей.
